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高精度、高速、一体式丨Santec晶圆测厚系统 TMS-2000
	7/19/2024，光纤在线讯，在半导体制造领域，晶圆的厚度测量对于确保产品质量和性能至关重要。随着技术的发展，行业对晶圆平整度和厚度的测量精度要求越来越高。SantecTMS-2000高精度晶圆测厚系统，为高精度测量提供定制化解决方案。 Sanetc的TMS-2000系统以非接触方式测量晶圆平整...... 2024-07-19 08:50:17