LUNA OBR4600背光反射计技术特征

3/1/2019,
一、产品介绍
LUNA公司的OBR4600是光纤背光反射计系列产品之一。用于光器件/模块和短距离光网络的测试和故障排除。OBR4600超高空间分辨率是基于瑞利背向散射的高探测灵敏度，空间分辨率达到10微米，零死区，能够集成温度和应变测试，最大测试距离达2km。OBR4600提供卓越的测试结果和故障排除功能，在短时间内快速获取所需参数。




   目前市场上对于损耗的测试，主要有OTDR技术和基于OFDR技术的OBR背光反射计。OTDR技术的主要特点是测试距离长，从几十米到几十公里，常用于光缆或者光网络的施工测试，普通OTDR测试设备的空间分辨率在米级。空间分辨率如果在0.1m~0.01m范围内，则需要使用价格昂贵的高分辨率OTDR测试设备。在目前的成熟产品中，只有OBR背光反射计能够在2公里范围内实现毫米级空间分辨率，最高可以达到um级空间分辨率。从技术角度上分析，只有OFDR技术才能够实现高空间分辨率的分布式损耗测试。

二、区别于其他设备的优势
1、分布式损耗测试

OBR4600背光反射计能够测试整个光路上的损耗和缺陷分布情况，而且使用单端即可进行连接测试。常规损耗测试是对比输入端和终端输出两者的差异，只能获取总损耗值大小，而不能确定出现损耗的位置，不利于分析和追踪。而OBR4600的插损测试动态范围达到18dB，分辨率0.05dB，回损测试动态范围是70dB，分辨率0.05dB。其分布式损耗测试技术独具特色。

2、高空间分辨率

OBR4600背光反射计空间分辨率最高能够达到10um，这是任何一台设备都不具备的测试能力。其最典型应用是在快速接插件中检测端子质量，如上图所示，接插件出现故障以裂纹为主，mm级以上的断裂能够被明显测试到，而mm级裂纹的损耗往往决定了信号通过的质量。在光器件中，如WDM、PLC和spliter；除此之外，进行损耗区域放大之后，可以根据损耗特性分布情况，推断故障发生的类型。
而在硅光研究领域，OBR4600更是进行测试必不可少的设备，其测试性能得到了Blumenthal and Bowers Optoelectronics Research Groups的认可，并在硅光器件上进行了测试应用，国内上海中科院在对硅光的研究中，也认可该设备的高空间分辨率性能。


3、兼容多模器件测试

除了对单模光纤进行测试之外，OBR4600也可以用于多模光纤的性能测试，对于通讯测试具有重要意义。

4、可用于产线自动化测试

背光反射计软件人机交互界面简单，测试结果存储方便，而在生产线测试应用中，可自动设置测试位置和阈值检测标准，极大提高工作效率，避免人工操作带来的误差。

三、技术特征
背光反射计主要具有以下的技术特征；
1. 定位并诊断光纤的弯曲、熔接、连接和断裂等各类故障；
2. 定位短距离光网络中所有存在插入损耗的位置；
3. 检查器件内部评估每一个连接处的RL和IL；
4. 在7s之内，能够以10微米的分辨率测量30m的光纤；
5. 最高以3Hz的连续频率测量1m的光路；
6. 测试和排除短距离光网络故障（<2km）；
7. 光纤组件的自动检验；
8. 监测光网络或光模块内部温度或应变的分布情况。

背光反射计的主要性能优势如下所示：
1. -130dB的灵敏度；
2. 70dB的动态范围；
3. 2km测量范围内零死区；
4. 小于0.05dB的插损分辨率。


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武汉光谷长盈通计量有限公司 
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