钒创推出误码分析仪

5/9/2012,湖北两岸光电子信息产业暨武汉中国光谷高峰论坛于今日(2012/5/9)在台北圆山饭店举行,期间武汉市人民政府市长 唐良智,湖北省人民政府省长 王国生,武汉东湖新技述开发区管理委员会主任 张光清,武汉邮电科学研究院 烽火科技集团 夏存海总会计师,武汉日新科技股份有限公司总经理 徐进明等均热烈参与两案光电子信息活动。

   台湾与武汉光谷论坛之分组技术研讨亦紧接着展开,其中 Mediatek联发科技股份有限公司董事长 蔡明介与Phytrex钒创科技股份有限公司技术总监 李至伟均发表看法。其中Phytrex钒创科技亦针对光电子器件相关测试之误码分析仪Bit Error Rate Tester作出说明如下:

钒创推出支持多种软件平台的误码分析仪PBR E-BER T
 推出3Gbps、5Gbps和10Gbps版本的误码分析仪，多种速率可供选择
 提供Labview、VB.net和C#.net的driver

   钒创科技(Phytrex)推出3Gbps、5Gbps和10Gbps版本的误码分析仪，支持多元平台的软件操作接口，包含Labview、VB .net和C# .net的driver，可以配合生产线设备系统整合，附有driver的使用手册及使用范例，方便软件开发人员依喜好需求做设计。计算机执行程序操作容易，并使得档案储存和数据分析变的更加便利及快速。完整电和光接口的讯号产生器和误码分析，数据速率从1Mbps到10Gbps有多个速率可供选择。内键频率资料回复机制(CDR)，能做到资料同步，用来作为业界生产测试或实验室研究都很适合。