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dBm 推出新型光探测器测试系统

光纤在线编辑部  2004-03-20 11:25:48  文章来源：综合整理  版权所有,未经许可严禁转载.

导读：

3/19/2004, dBm光学公司今天推出新的280型号的光电二极管测试系统。该系统允许PIN和APD制造厂商在研发，QA以及生产过程中进行全参数的测试。该系统的测试非常精确，快速而且便宜，特别在进行偏振敏感测试的时候特别有效。该系统支持传统的全状态PDR测试以及更加精确的4状态和6状态PDR测试方法。280系统采用了dBm公司独特的实时参考技术，可以消除灵敏度测量中的许多错误。该系统可以同时支持单个或成百个二极管的测量，测量噪声低于200fA。
关键字： dBm
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