ILX 推出新的LD可靠性测试系统
光纤在线编辑部 2004-01-16 09:35:02 文章来源：综合整理 版权所有,未经许可严禁转载.
导读：
1/15/2004, ILX Lightwave 日前推出新的半导体激光器可靠性和老化测试系统LRS-9424。该产品的密度是其他商用系统的2倍，将明显降低TO-can和TOSA的测试成本。LRS-9424可以在一个单个箱体内测试最多1024个TO-Can，并可以设置从25到150摄氏度多个温度，同时具有很高的温度精确度。
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