3/6/2003, 领先的光仪表厂商EXFO 今天宣布推出光连接器自动测试系统IQS1200B。该系统可以自动测试多模和单模光纤连接器的插损和反射损耗。单模插损精度达到± 0.03 dB,多模达到± 0.07 dB。反射损耗多模可以测量10到45dB,单模可以测量30到70dB。该系统支持APC测试。EXFO公司表示他们的这套测试系统特别针对提高单模和多模光纤连接器的产能和质量设计,对于现在数据通信中越来越多地应用到光纤连接器,势必起到促进作用。
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