CFCF2020 ｜圣德科Santec：WDM 无源器件PDL/IL测试专场培训

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导读：本期重点推荐圣德科Santec专场培训，Santec快速扫描测试系统通过实时记录可以同时获取可调激光器的输出功率与经过DUT的传输功率，从而精确计算出WDL/PDL的数据

7/13/2020，光纤在线讯，突如其来的疫情加速了国内5G与数据中心建设，今年3月，中共中央政治局常务委员会召开会议，强调要“加快5G网络、数据中心等新型基础设施建设力度”，光通信已成为5G前传建设的重要传输角色。作为光通信领域疫情后首个线下大会，2020光连接大会（CFCF2020）将于7月30~31日在广东清远喜来登度假酒店启幕。大会以“光联万物  多彩未来”为主题，探索面对5G、数据中心、电信传输等领域寻求光通信新机遇。大会邀请国内4大运营商、6大数据中心云服务商，设备商及光通信企业代表及专家共话5G时代的新发展。

   在此前景下，2020光连接大会共拥有6场专场培训，分别由光纤在线、圣德科Santec、杭州精工技研、FiconTec、深圳正和捷思科技/上海熙邦新材料/和迅光电、微码邓白氏（深圳市杰创志联科技有限公司）共同打造。

  本期重点推荐圣德科Santec专场培训，Santec快速扫描测试系统通过实时记录可以同时获取可调激光器的输出功率与经过DUT的传输功率，从而精确计算出WDL/PDL的数据。采用Mueller矩阵生成快速的PDL测量方案。此系统也可简化为使用Santec 数据采集模块(SPU-100)搭配其他光学的功率计或探测器，可广泛用于WDL测试。通过采样和缩放算法在保持测试方案完整性上可以保持最大测试性能输出。
另外，该系统尤其适用于DWDM和高Q光子器件光谱特性的测试。通过快速扫描和精确测量可有效节省时间，以确保测试设备的完整性和有效性。

   高精度、高分辨率、高速一直是Santec的理念。本次推出的多工位PDL/IL测试系统最大的优势也来源于成本低、准确性高、效率高，此产品应用于O/O、O/E测试，AWG、WDM、硅光芯片、其他无源器件等等。

圣德科Santec专场培训介绍：
培训主题：WDM 无源器件PDL/IL测试
培训提纲：
1、WDM 无源器件分类
2、不同种类无源器件对测试要求
3、高速 PDL 与 IL 测试系统解决方案
4、现场答疑
培训时间：7月30日（周四）09：00~12：00
培训地点：中国清远狮子湖喜来登度假酒店会议室5

6大培训议程：