专访 | 昊衡科技推出OCI与OLI系列产品 助力光通信市场蓬勃发展

4/18/2024，光纤在线讯，随着光通信市场的逐渐升温，高新技术企业昊衡科技凭借其自研自产的OCI和OLI系列产品，正在引领光通信测试测量技术的革新。近日，我们有幸采访到了昊衡科技的产品经理叶阳经理，他为我们详细介绍了这两款产品的特点及应用场景。



叶经理表示，OCI和OLI系列产品均适用于光通信类产品的相关测试测量。客户可根据自身的产品测试场景、待测指标等情况灵活选择与搭配；另外，无论是研发分析式测量需求还是产线自动化测量需求，昊衡科技均可根据客户实际情况定制最适合的设备测试解决方案。其中，OCI系列采用了先进的OFDR技术，该技术由昊衡科技率先在国内实现商用化，并已获得客户的广泛认可。OCI系列产品的测量长度在100米（可扩展到1km）的同时还能保证单点距离分辨率在10μm级别。另外，因为光频域反射的技术优势，OCI能探测到-130dB的回波弱信号，这一性能指标在业界处于领先水平。



另一款OLI系列产品则应用了时域光学相干技术（TD-OCT），主要针对小体积、光链路较短的光通信产品进行测试。其最长可测量90厘米的光链路范围，单点距离分辨率同样达到10微米级别，且设备的回波信号测量灵敏度可达-100分贝。

在谈到产品应用场景时，叶经理举例说，无论是无源光器件、光纤链路，还是波导链路芯片、复杂光路系统，只要能够产生回波信号的光链路器件和模块，均可使用这两款设备进行测量。特别是在当前火爆的高速光模块市场，如800G、1.6T、CPO、LPO等产品，OCI和OLI系列设备能够提供全面且细致的检测方案。

这些产品均有设计新颖，技术前沿，附加值高的特点，目前常规的检测方式（功率计、插回损仪）并不足以对这些高密度的复杂封装形式的光路作全面且细致的检测。而我们分布式回损检测的方式可以低于-100dB的极弱光信号探测能力检测复杂光路系统中精确到几十μm的每点的信号反射强度，可极大提升光链路分析能力。

例如，客户一般使用OCI相关设备检测模块内部光纤质量问题，芯片内部异常点，芯片波导长度，插回损、PDL，色散，延迟等各种光学指标。而针对插芯、连接头或耦合端面、高密度FA-MT/MPO连接、极短距空间光、镀膜等链路问题分析，则使用OLI相关设备。


OCI测量硅光芯片


OLI检测光模块内光纤裂纹

面对激烈的市场竞争，叶经理认为昊衡科技产品的核心竞争力在于其良好的探测指标、价格优势以及定制化功能和产线自动化集成的能力。他解释说，公司具有专业的团队进行技术支持，可以根据客户对产品的测量需求，开发专属测量功能或提供一站式自动化测量方案，从而帮助客户提高生产效率并降低成本。在售后服务方面，售后团队7*24小时实时响应，及时解决用户的使用问题。

在产线自动化检测方面，叶经理介绍了两个主要特点：

一是针对高密度的多通道产品，通过模块化的光开关设计，用户可一次性把单个产品的所有通道均接到开关上。点击一次扫描，设备逐一对每个通道链路进行扫描测量，无需多次插拔换线和点击，并可一次性保存所有通道测量数据，实现一次性扫描测量所有通道；

二是产品自动合格判定与数据对接。为了更方便产线人员进行操作，设备配有阈值判断功能，工程师可根据待测品特性自由设置产品合格与否的回损值大小，系统自动找寻测量结果中是否有超出设定阈值的点，同时标出此点具体位置和信号大小，保存至表格中输出，从而大大提高检测效率。

对于公司的发展前景，叶经理表示，昊衡科技将重点关注硅光领域，扩大产品的使用场景并提高产品知名度。同时，公司将根据客户的反馈不断优化产品，提高设备使用感，给用户带来更好的使用体验。

作为一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，昊衡科技将继续致力于为客户提供高精度、高分辨率的光学测量与传感技术解决方案，相信未来的发展会越来越好。