猎奇智能发布LD芯片性能测试设备

9/16/2021，光纤在线讯，专注于光器件、光模块、光电芯片的生产和测试设备制造商--猎奇智能宣布推出半导体测设备。用于LD芯片（BAR条）光电性能检测。
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    据了解，该测试设备采用自动化处理，智能的图像算法，支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别。采用真空吸嘴，自定位，双视野视觉系统，实现芯片位置与角度的自动调整。主要用于光电生产企业的LD芯片（BAR条）光电性能检测，可测试长波长激光器BAR条的超低温、高温条件下的前光、背光的LIV参数和光谱参数。

该款产品也将在即将于深圳举办的光博会CIOE上重点展出，欢迎您莅临4号馆#4D75，猎奇智能的展台，进一步参观交流。

展会名称：中国国际光电博览会（CIOE）
展示时间：2021年9月16日-18日
展出地点：深圳国际会展中心（宝安新馆）
展馆：4号馆
展位号：4D75