昊衡科技——国产多功能光矢量分析仪（OCI-V）制造商

3/25/2024，光纤在线讯，随着高速光通信发展，光器件种类多、迭代快，对测量仪要求更高。而在新兴平面光波导和硅光芯片领域，其对仪表测量精确性、稳定性和操作便利性等各方面提出前所未有的挑战。昊衡科技专注于高端光学测量与传感测试系统研发和解决方案开发，拥有OFDR核心技术，并成功推出国产多功能光学矢量分析系统--OCI-V。


图1. 光矢量分析系统（OCI-V）
    OCI-V光学矢量分析系统，原理是采用线性扫频光源对待测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得器件插损(IL)、色散(CD)、偏振相关损耗(PDL)、偏振模色散(PMD)等多项光学参数。系统测量长度200m，可工作在C+L或O波段，具有测量范围大、波长范围宽、覆盖器件广、测量参数多等优势。

01.  HCN气体吸收室测量


图2.OCI-V测量HCN气体吸收室
    HCN气室会对固定波长的光进行吸收造成损耗，OCI-V测量不同波段的光通过HCN气室后的损耗情况。

02.  保偏光纤快慢轴时延差测量


图3.OCI-V测量保偏光纤快慢轴
    保偏光纤快轴折射率小、光传输速度快，慢轴折射率大、光传输速度慢。OCI-V精确测量PMD对于评估光纤制备、光器件制造及光通信链路非常有意义。

03.  FBG受压时偏振相关损耗测量


图4.OCI-V测量FBG受压时偏振相关损耗

    FBG在没有压力时中心波长附件光波段的PDL趋近于0，施加压力后中心波长附近两端出现两个峰值，随着压力逐渐增大，波峰峰值越来越大，在压力达到60KN时波峰出现最大值。

    OCI-V光学矢量分析系统能够同时测量光学网络损耗、偏振、色散等信息，分析光器件在宽谱、精细波长下的损耗和时延。其功能强大、操作方便，在光器件的研发、生产全过程中发挥重要作用，为改善设计、优化结构和评估工艺等提供可靠依据。

昊衡科技
    一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是一家实现OFDR技术商用化的公司。

    目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。

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公众号：“昊衡科技”或“大话光纤传感”