Santec新品 | 基于OFDR技术光器件链路分析仪

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导读：Santec 最新推出的基于光频域反射(OFDR)技术的光器件链路分析仪SPA-100，采样分辨率高达5um，得益于Santec高精度、160nm宽波长调谐范围的激光器。

8/08/2023，光纤在线讯，Santec 最新推出的基于光频域反射(OFDR)技术的光器件链路分析仪SPA-100，采样分辨率高达5um，得益于Santec高精度、160nm宽波长调谐范围的激光器。5um高采样分辨率能力，可以帮助研发人员分析各种精密光子系统的空间分布和故障，缩短研发时间。

光器件链路分析仪 SPA-100

▼光频域反射技术(OFDR)原理

   光频域反射技术（OFDR）是一种基于光纤中瑞利散射的背向反射技术，光源发出的线性扫频光经耦合器分为两路，一路进入待测光纤中，在光纤各个位置上不断地产生瑞利散射信号，信号光是背向的，与另一路参考光耦合到探测器上进行相干混频。待测光纤不同位置，光频率不同，信号光与参考光的频差也不同。

   通过频率测量可以获得待测光纤中各位置的光强。频率对应于光纤的位置，光强对应于此位置的反射率和回损。

▼典型的应用场景

1.   硅光子器件事件分析

硅光子器件一般是会包含硅光芯片和其他芯片的混合集成器件，这样的混合器件中，光链路中总会有一些事件点，可能会造成光学性能的的差异。如何精确得知这些故障点以及性能呢？SPA-100可以帮助到你。

2.   光学链路分析

   在一些较长的光学传感链路中，也会有不同的事件点，如何精确得知具体哪一个事件出现故障或者性能的劣化，就需要OFDR的分析仪来进行监测, 通常这种链路中，OTDR的分辨率是不能满足测试要求的。

3.   芯片耦合过程中距离监测

   光探针在逐渐靠近硅光芯片或者晶圆进行耦合的过程中，可能会因为接触而造成芯片或者晶圆的损伤，Santec 的OFDR 在探测性能的同时还提供额外的距离探测的功能，最大限度提高耦合效率并保护芯片和晶圆。

4. WDL 性能分析

SPA-100 提供2个测试端口一个端口用于OFDR分析，另一个端口可以同时扫描得到透射光谱，分析各种波长相关性测试指标。160nm的波长范围，高达70dB的动态范围。

得益于Santec 高精度、160nm宽波长调谐范围的激光器，Santec 的OFDR 分析仪可以达到业内领先水平，能够更好的助力高精度硅光子器件的研发过程。

同时，Santec 的OFDR 仪表设计充分考虑了客户的投资，光器件链路分析仪 SPA-100可以配合客户现有的Santec 可调谐激光器（TSL-770,TSL-570,TSL-710,TSL-550）完成上述各种场景的测试。