Santec | 光电探测器高速光谱扫描响应度测试

5/09/2023，光纤在线讯，光电导探测器是利用半导体材料的光电导效应制作的探测器。所谓光电导效应，是指有辐射引起被照射材料电导率改变的一种物理现象。

     光电导探测器根据材料不同，可以工作在不同的波段，比如在近红外波段的有PbS，PbSe，InGaAs,InP材料等，在长于8um的波段有Te，Si掺杂，Ge 掺杂等.近年来光电探测器的研究发展迅速，尤其是在标准CMOS工艺下的Si光电探测器的发展已经取得瞩目的结果，并且也成功应用在我们光通信的器件和设备当中。

    无论哪种材料或者技术制作的光电探测器，都有一套根据实际应用制定的评价体系，能够科学的反应各种光电探测器的共同因素，人们可以根据这套评价体系衡量探测器的性能的优劣，比较各种探测器之间的差异，从而更加合理和正确的选择和使用光电探测器。

   在评价体系中有一个非常重要的指标是光谱效应（spectral response）。光谱响应是表征光电探测器的响应度或探测率随波长而变化的性能参数。设波长可变的光功率谱密度为Pλ，由于光电探测器的光谱选择性，在其他条件不变的情况下，光电流将是光波长的函数。记为iλ，于是光谱灵敏度Rλ。

为了测量光谱响应度客户可能采用的方法如下：



上图的方法效率非常低，每个波长点的测试，电脑都需要下发命令控制光源改变，再下发命令SMU测试并且读取测试结果，多个波长测试测试耗费数小时的时间。   

Santec 基于最早光层的波长扫描系统，开发了新的电流计单板用于高速PD电流的测试，从而完成PD的快速波长相应测试。



Santec 提供完整的测试系统，测试软件可以直接显示测试曲线，或者按照客户要求提供原始数据。


Santec 提供多款探测器:

•功率计MPM-211或者MPM-215直接探测光功率
•电流计MPM-213测试PD响应度用于OE测试
•MPM-212提供高速模拟输出功能用于自动耦合


MPM-213模块指标如下