OFC2023 | 菲莱科技携最新纳秒级晶圆测试系统参展

3/03/2023，光纤在线讯，第48届光网络与通信研讨会及博览会(OFC)将于2023年3月7-9日在美国圣地亚哥隆重举行。专注于光芯片测试及可靠性的––上海菲莱测试技术有限公司将携纳秒级晶圆测试系统、全自动晶圆AOI系统等亮相此次展会。展位号#6325，欢迎广大业内同仁莅临交流。



参展信息：
上海菲莱测试技术有限公司
展会名称：OFC 第48届 光网络与通信研讨会及博览会
展会时间：2023年3月5-9日 
展会地点：美国.加州,圣地亚哥
展位号：#6325



菲莱科技在OFC现场重点展示的产品包括：

—400G/800G硅光芯片耦合系统
—纳秒级晶圆测试系统
—全自动晶圆AOI系统
—激光芯片老化系统
—高功率激光老化系统
—SiC晶圆级老化系统
—芯片加载和卸载系统



关于菲莱科技



菲莱科技是一家半导体测试设备和相关服务提供商，致力于帮助客户解决半导体芯片测试和可靠性问题。产品包括：纳秒级晶圆测试系统、400G/800G硅光芯片耦合系统、全自动晶圆AOI系统、激光芯片老化系统、高功率激光老化系统、SiC晶圆级老化系统、芯片加载和卸载系统、内存烧录系统、IGBT烧录系统等。

关于菲光科技

菲光科技是菲莱科技全资子公司，致力于为芯片设计公司及晶圆代工厂提供芯片初级封装及测试服务，如：Vcsel芯片后处理、RGB芯片封装和测试、各种激光芯片CoC/COS可靠性测试、激光雷达发射模块测试及验证。

联系方式：
Contact. Eric.liu@feedlitech.com
Phone. 18688779380