昊衡科技：光矢量分析系统测试在光纤不同波长下的弯曲损耗

9/20/2022，光纤在线讯，在实际使用过程中光纤不可避免地会被弯曲，当弯曲半径较小时，光的传输途径会发生相应的改变，在弯曲处有一部分光会从基模中泄露，渗透到包层或穿过包层辐射模向外传输而引起光功率减小，从而造成弯曲损耗。借助于光矢量分析系统（OCI-V）能够测试光器件在不同波长下的损耗特点，对光纤进行不同弯曲状态下的损耗测试。


光矢量分析仪（OCI-V）
 
     测试光纤弯曲后损耗的实验装置如图1所示，将被测光纤缠绕在不同直径的橡胶棒上，每种直径的橡胶棒上缠绕不同圈数的光纤。


图1. 不同波长下损耗实验装置图

     采样OCI-V透射模式，测试光纤在没有弯曲状态下的初始损耗，测试结果如图2所示，可以看出待测光纤在没有弯曲时的平均损耗约为0.65dB，且在不同波长下的损耗基本一致。


图2. 无弯曲时在不同波长下的初始损耗

表1. 不同直径圈数波长下的损耗情况


     表1为光纤弯曲后在不同波长下的损耗测试结果，从结果中可以看出缠绕直径越小，缠绕圈数越多，对待测光纤带来的损耗越大，在相同缠绕直径和缠绕圈数时，损耗会随着波长的加长而增大。


（a）缠绕1圈


（b）缠绕2圈


（c）缠绕5圈
图3. 弯曲直径10mm时在不同波长下的损耗

     使用OCI-V可以测试出光纤弯曲时在不同波长下的损耗情况，损耗会随着弯曲直径的减小或缠绕圈数的增加而增大，从测试结果可以看出，在同一种弯曲状态下，随着波长的加长损耗增大。通过OCI-V可以快速测试出光链路在不同波长下的损耗特性，为设计制造光链路提供可靠的数据支撑。

昊衡科技

     一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是一家实现OFDR技术商用化的公司。
目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。
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公众号：“昊衡科技”或“大话光纤传感”