昊衡科技推出了一系列光学测量测试系统

11/24/2021，近日，致力于为光通信用户提供更先进、更稳定、更可靠的测试解决方案的昊衡科技，推出了一系列光学测量测试系统。其中高分辨光学链路诊断系统（OCI）与光学矢量分析系统（OCI-V）备受大家关注，为了便于大家选择适合自己的产品，昊衡科技进行深度剖析，探究它们究竟有何不同之处。





OCI与OCI-V的不同之处主要有3方面，分别是测量原理、测量参数以及产品应用。

测量原理
   高分辨光学链路诊断系统（OCI）采用的是OFDR光频域反射技术，检测待测光纤中背向瑞利散射信号，实现对光纤链路的全方位诊断；
光学矢量分析系统（OCI-V）采用线性扫频光源对带测器件进行扫描，并结合相干检测技术获取待测器件的琼斯矩阵，进而获得各光学参数。

测量参数
   高分辨光学链路诊断系统（OCI）测量分布式插损、回损、光谱、群延时等光学参数；光学矢量分析系统（OCI-V）测量PDL（偏振相关损耗）、PMD（偏振模色散）、IL（插损）、GD（群延时）、CD（色散）等光学参数。
另外，在系统设备显示上也有所差异，OCI显示横坐标为长度，纵坐标为反射；OCI-V显示横坐标为波长，纵坐标为各待测参数，其含义是测量不同波长下的各参数值。

产品应用
高分辨光学链路诊断系统（OCI）主要应用在光器件、光模块测量，光纤长度精确测量，硅光芯片测量，光谱、群延时测量等。


光学矢量分析系统（OCI-V）主要针对于无源器件（平面波导器件、硅光器件、波长可调器件、放大器等）测量。


   相同点是OCI与OCI-V均产自昊衡科技，属于国产自研产品，设备自校准，无需人为干预，稳定性非常好，能精准测量各待测参数且极大节省测试时间。现在，大家都更加了解高分辨光学链路诊断系统（OCI）与光学矢量分析系统（OCI-V）吧，如有任何问题，欢迎大家咨询！

关于昊衡科技
   一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是国内唯一一家实现OFDR技术商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。
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官网：http://www.mega-sense.com/
公众号：“昊衡科技”或“大话光纤传感”