昊衡科技推出不同种类光纤的连接损耗测量

光纤在线编辑部  2021-07-27 16:46:10  文章来源:综合整理  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:昊衡科技使用功率计测量两两光纤熔接时的真实损耗。首先将功率计直接连接设备出光口,测得出光口光功率为1.636mW,然后按图6进行连接,这里例举单模光纤和特种光纤。功率计测得光功率为1.012mW,通过公式10lg(Pout/Pin)计算出损耗为-2.086dB,由于链路中有两个连接点,则一个连接点的损耗为-1.043dB,与表1中单模光纤和特种光纤连接损耗仅差0.106dB。

7/27/2021,
OFDR插损测量原理
  光频域反射技术(OFDR)可通过背向散射法测量整段光纤的回损曲线,利用回损和插损之间的关系可以得到整条曲线各个点的损耗。



   如图1所示,假定DUT前后测量位置为1、2,其对应的光功率分别为P1、P2,对应的散射系数分别为α1、α2,则其对应的反射光功率分别为:Pr1=P1×α1、Pr2=P2×α2。



光纤连接损耗出现负值现象
   光纤连接处只能引起损耗而不能引起“增益”,OFDR是通过对比连接处前后位置的回损强度来对连接处的损耗进行计算,当连接处前面光纤的回损强度大于后面光纤的回损强度时,会引起连接处插损出现负值的现象,从而引起所谓的“伪增益”。
   如图2所示,两种不同的光纤熔接后,正向测试为-0.2dB的损耗(0.2dB的增益),反向测为0.4dB的损耗,实际上连接处始终会存在损耗,不可能出现增益情况。
 


   导致“伪增益”的主要原因是由于连接处前后两种光纤的瑞利散射系数、模场直径和折射率等有差异,此种情况经常出现在不同型号的两种光纤熔接在一起时。这种“伪增益”会导致使用OFDR测得的损耗不准确,为了准确测量连接处的损耗,昊衡科技做了以下测试。

测试验证
   将单模光纤、保偏光纤、直径125μm和80μm的聚酰亚胺光纤、特种光纤等五种光纤两两熔接在一起,如图3所示,A、B为五种光纤中的任意两种,使用双向平均法测试连接点损耗。






 
   同时,昊衡科技使用功率计测量两两光纤熔接时的真实损耗。首先将功率计直接连接设备出光口,测得出光口光功率为1.636mW,然后按图6进行连接,这里例举单模光纤和特种光纤。功率计测得光功率为1.012mW,通过公式10lg(Pout/Pin)计算出损耗为-2.086dB,由于链路中有两个连接点,则一个连接点的损耗为-1.043dB,与表1中单模光纤和特种光纤连接损耗仅差0.106dB。


 
由此得出,使用OFDR测量不同种类光纤连接损耗有两种方法:
1、使用双向平均法测量不同种类光纤的连接损耗,将两次测量结果取平均后就是熔接处真实损耗;
2、通过提前测量不同种类光纤之间的瑞利散射强度差,然后用背向散射法测得的损耗减去(或加上)瑞利散射强度差,即可得到真实连接损耗。

昊衡科技
   昊衡科技一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司,专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发,也是国内唯一一家实现OFDR技术商用化的公司。目前,昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品,主要应用于光学链路诊断、光学多参量测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系,并取得诸多成果。
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