Golight发布400G向下兼容光模块测试方案

5/28/2020，光纤在线讯     2020年是5G商用元年，400G光模块蓄势待发，伽蓝特现推出400G可向下兼容的光模块测试方案，这意味着光模块厂商在选用此方案后，可使用同一套系统测试100G或400G的光模块。

当前100G光模块的测试方案是基于NRZ编码方式，该编码方式不适用于400G光模块的测试，对此，本公司推出的PAM4误码测试仪可以实现脉冲幅度调制（PAM4）和非归零码（NRZ）两种编码方式，当测试400G光模块时，使用PAM4编码方式；当测试100G光模块时，使用NRZ编码方式。
                   


上图为 NRZ和PAM4对应的光眼




上图为 400G向下兼容光模块测试方案框图



上图为光模块多工位测试方案



上图为工位设备、成本、效率对比



上图为 光引擎测试方案-发射



上图为 光引擎测试方案-接收



上图为光模块过载测试



上图为 AOC光模块测试



上图为 相关产品描述


联系人：Ben LIU
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光于伽蓝特 | Golight Technology

伽蓝特（Golight Technology）成立于2008年，总部位于深圳，在北京、苏州、武汉等地设有销售分支机构。公司主要从事各类光源、光放大器、光电测试仪表、光电测试系统的生产和研发，满足用户在光电控制、光电检测、系统集成等方面的应用需求。

为了满足近年来光通信模块和硅基光电子模组的快速发展，公司自2015年起陆续推出40G、100G和400G光模块并行测试方案，包括多通道程控光功率计、多通道单模/多模光衰减仪、多通道程控光开关、56G、100G、PAM4误码仪等产品，在提高测试效率的同时，大大降低了光模块生产商的测试成本。

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