Golight发布硅光晶圆/芯片/模块测试方案

5/21/2020，光纤在线讯      硅基光电子集成技术是一项突破性的技术。硅光模组在性能、功耗、尺寸、可靠性及成本等方面取得的长足进步，使得100G和400G硅光模块在数据通信和电信通信领域得到了广泛的应用。硅光模块量产以后，业界对硅光晶圆、芯片、模组的高效测试提出了更高的要求。Golight Technology（伽蓝特科技）协同合作伙伴适时推出量产型硅光测试方案，助力业界。


硅基光电子晶圆/芯片自动测试框图


Golight协同合作伙伴提供的硅基光电子晶圆/芯片自动测试方案，主要分为光学性能测试和S参数测试两大部分的测试仪器。  
   



设备的性能参数




硅光模块光传输测试框图




设备的性能参数


欢迎业内专家联系Golight Technology，共同探讨硅光测试技术。联系方式：

销售：Ben LIU
手机：13827408210
邮箱：ben.liu@go2light.com
       


关于伽蓝特 （ Golight Technology）

伽蓝特（Golight Technology）成立于2008年，总部位于深圳，在北京、苏州、武汉等地设有销售分支机构。公司主要从事各类光源、光放大器、光电测试仪表、光电测试系统的生产和研发，满足用户在光电控制、光电检测、系统集成等方面的应用需求。

为了满足近年来光通信模块和硅基光电子模组的快速发展，公司自2015年起陆续推出40G、100G和400G光模块并行测试方案，包括多通道程控光功率计、多通道单模/多模光衰减仪、多通道程控光开关、56G、100G、PAM4误码仪等产品，在提高测试效率的同时，大大降低了光模块生产商的测试成本。

公司秉持“品质、创新、服务”的理念，努力为用户提供更加专业、更加实用、更加可靠的产品和服务。