9/2/2019,光纤在线讯,近日,由南通赛勒光电独家代理的光创科技发布400G误码仪,用于测量出400G光模块FEC Symbol Error 分布图以及直接计算出FEC Margin,可谓是光模块测试领域的一大进步。
400G光模块研发界最常问的一句问候语:
兄弟!你的400G光模块FEC Margin有多少?
你是怎么处理Burst Error以及Radom Error的呢?
怎么样测试的呢?
让光创科技的误码仪来为您解答一切,光创科技是业界第一个利用误码仪做出FEC Symbol Error 分布图以及直接计算出FEC Margin的公司。利用FEC Symbol Error 分布图,可以分析400G光模块是否因为Burst Error以及很长的Radom Error,让400G光模块的FEC Margin比较差。
除此之外,光创科技的400G 误码仪,更提供了Channel Simulation通道模拟功能,可以分析你的Host Side Trace 是否有SI的问题,降低因为SI问题而造成的Burst Error。
光创科技也同时提供了低成本的53G Optical CDR的解决方案,让昂贵的53G 光眼图TDECQ测试,不再是生产时的成本的一大负担。
光创科技的宗旨是“测试是为了让产品更完美。”
光创科技测试仪器系列由南通赛勒光电独家代理,9月4-7日,赛勒光电将于深圳CIOE2019期间1b03展示全面展示,欢迎到访体验。
关于光创科技
光创科技的专业团队来自业界一流通讯仪器公司,以解决客户需求为导向、预先为业界需求着想的思维;成功开发出世界第一台可模拟400G KP4/KR4 FEC Margin功能的误码仪,世界第一台可以支持PRBS31 Pattern Lock的示波器,世界上量测速度最快,每秒高达100万点的28G光示波器,以及世界第一台完美整合误码仪、MCB以及电源供应器于单一设备的400G光模块产线专用测试仪器。
光创科技,测试是为了让产品更完美。
独家代理商:
南通赛勒光电科技有限公司
手机 : 189-3036-1385
电话:021-59160507
邮箱 :sales@siluxtek.com
上海市嘉定区平城路1455号新微大厦B栋3E