昊衡科技：如何理解OLI测量得到的链路回损
发布时间：2023-10-20 11:15:05 热度：1235
10/20/2023，光纤在线讯，昊衡科技上一篇文章详细介绍了OLI实现故障定位和失效分析的原理(OLI如何实现光纤链路诊断和分析)，有客户咨询了测量结果曲线中纵坐标回损的相关问题。下面，针对OLI设备测量得到的这个指标作一个更加详细的讲解和演示。
回损定义：光链路中某点的反射光强与入射光强的比值。此定义在前面文章有过详细描述，这里不多做解释。
OLI的回损测量原理
首先，OLI测量结果曲线上，纵坐标的回损值是根据回损仪实际测量得到的结果校准而来。同一链路的某一点回损值两种方法测量结果如下图所示：
回损仪实测值
OLI扫描结果
也就是说，OLI纵坐标显示的回损值即表示当前位置下的实际具体回损，不需要再另外去计算回损（积分回损）。如果客户需要使用反射率等指标表征此点的情况，则根据相关定义，把回损的对数坐标转化成比值即可。例如：-10log（0.03）=15.2dB，那么15.2dB的回损值对应反射率为3%。依此类推，13.97dB对应4%的反射率；3dB对应50%反射率；0.044dB对应99%反射等等。而反射率在物理上可以理解为3%（4%、50%、99%）的光反射回来。
另外，OLI设备是连续的分布式回损扫描测量，最终的结果曲线是综合了链路上的所有损耗之后得到的回损结果。那么，如何理解“综合了链路上的所有损耗”这一表述？以下举例详细说明。
据OLI设备的系统方案设计，测量待测链路上的某点回损，需要从DUT出来的参考光经过待测点之前的所有光链路，之后到达待测点，经待测点产生反射光后，反射光再次经过DUT到待测点之间的这一段链路，然后进入设备中并被检测到。也就是说，如果待测链路中，待测点之前的光链路中存在插入损耗的话，OLI最终显示的回损结果也把这些插入损耗计算进去了。在计算最终点的回损时，经过了两遍此点之前到DUT口的光链路，所以理论上最终计算后的回损值为此点回损+2倍的综合插入损耗。
举例说明：按照如下图示连接测试光路，测量pc头末端的反射回损，在DUT口和pc头跳线之间连接一个3dB耦合器，则每个端口分光比为50%。
50:50耦合器测试案例
3dB耦合器的插入损耗使用插回损仪测量插损结果如下：
50:50耦合器插入损耗
OLI设备根据上面图示接法测量结果如图：
50：50耦合器OLI测量结果
结合实测结果看，3dB耦合器插损3.4dB，pc头的回损实测-15dB，那么最终pc头末端显示结果应为-15+（-3.4x2）大约-21.8dB，而OLI的显示结果为-22.3dB。表明了OLI的回损测量准确性，基本与理论值一致。
为了进一步验证结果准确性，我们又用了一个20:80耦合器来验证，接线方式如下：
20:80耦合器测试案例
20:80耦合器的插入损耗使用插回损仪测量插损结果如下：
80%端
20%端
OLI设备根据上面图示接法测量结果如图：
[center]80%端结果
20%端结果
结合实测结果看，耦合器80%端插损-1.2dB，pc头的回损实测-15dB，那么最终pc头末端显示结果应为-15+（-1.2x2）大约-17.4dB；耦合器20%端插损-7.2dB，pc头末端显示结果应为-15+（-7.2x2）大约-29.4dB，而OLI的显示结果分别为-17.5dB和-30dB，再次表明了OLI的回损测量准确性。同时也验证了OLI测量回损结果时，是需要考虑待测链路综合插入损耗的。
回损定义：光链路中某点的反射光强与入射光强的比值。此定义在前面文章有过详细描述，这里不多做解释。
首先，OLI测量结果曲线上，纵坐标的回损值是根据回损仪实际测量得到的结果校准而来。同一链路的某一点回损值两种方法测量结果如下图所示：
也就是说，OLI纵坐标显示的回损值即表示当前位置下的实际具体回损，不需要再另外去计算回损（积分回损）。如果客户需要使用反射率等指标表征此点的情况，则根据相关定义，把回损的对数坐标转化成比值即可。例如：-10log（0.03）=15.2dB，那么15.2dB的回损值对应反射率为3%。依此类推，13.97dB对应4%的反射率；3dB对应50%反射率；0.044dB对应99%反射等等。而反射率在物理上可以理解为3%（4%、50%、99%）的光反射回来。
另外，OLI设备是连续的分布式回损扫描测量，最终的结果曲线是综合了链路上的所有损耗之后得到的回损结果。那么，如何理解“综合了链路上的所有损耗”这一表述？以下举例详细说明。
据OLI设备的系统方案设计，测量待测链路上的某点回损，需要从DUT出来的参考光经过待测点之前的所有光链路，之后到达待测点，经待测点产生反射光后，反射光再次经过DUT到待测点之间的这一段链路，然后进入设备中并被检测到。也就是说，如果待测链路中，待测点之前的光链路中存在插入损耗的话，OLI最终显示的回损结果也把这些插入损耗计算进去了。在计算最终点的回损时，经过了两遍此点之前到DUT口的光链路，所以理论上最终计算后的回损值为此点回损+2倍的综合插入损耗。
举例说明：按照如下图示连接测试光路，测量pc头末端的反射回损，在DUT口和pc头跳线之间连接一个3dB耦合器，则每个端口分光比为50%。
3dB耦合器的插入损耗使用插回损仪测量插损结果如下：
OLI设备根据上面图示接法测量结果如图：
结合实测结果看，3dB耦合器插损3.4dB，pc头的回损实测-15dB，那么最终pc头末端显示结果应为-15+（-3.4x2）大约-21.8dB，而OLI的显示结果为-22.3dB。表明了OLI的回损测量准确性，基本与理论值一致。
为了进一步验证结果准确性，我们又用了一个20:80耦合器来验证，接线方式如下：
20:80耦合器的插入损耗使用插回损仪测量插损结果如下：
[center]80%端结果
结合实测结果看，耦合器80%端插损-1.2dB，pc头的回损实测-15dB，那么最终pc头末端显示结果应为-15+（-1.2x2）大约-17.4dB；耦合器20%端插损-7.2dB，pc头末端显示结果应为-15+（-7.2x2）大约-29.4dB，而OLI的显示结果分别为-17.5dB和-30dB，再次表明了OLI的回损测量准确性。同时也验证了OLI测量回损结果时，是需要考虑待测链路综合插入损耗的。
