Multilane联合多家知名厂商共同助力800G生态测试
发布时间：2023-03-29 11:59:11 热度：1442
3/29/2023，光纤在线讯，在本月初结束的第48届光网络与通信研讨会及博览会(Optical Fiber Communication Conference & Exposition，OFC 2023)，展示了业界最具创新性的新产品和光学技术，推动了量子网络、人工智能和数据中心连接的进步。
Multilane在OFC2023联合多家知名厂商共同展出800G互操作性验证及集成抖动和噪声的误码仪ML4079EN及测试套件SITOL，及诸多先进的测试测量方案。以下是Multilane最新的方案简介：
MultiLane推出业界革新的压力眼误码仪测试方案—ML4079EN。集成抖动和噪声测试解决方案ML4079EN误码仪与SITOL测试套件。SITOL集成了一种Interference Tolerance、Jitter Tolerance和Jitter Margin测试，确保您的设计能够满足单通道112G PAM4生态系统要求，ML4079EN抖动注入能力是IEEE设定的标准的三倍， MultiLane将IEEE标准要求提升到了另一个层次。通过自动化抖动和噪声解决方案，我们不仅能够准确地确定DUT是否具有足够的弹性，以便在实际应用中可靠地工作，而且也能够标定对抖动容忍的裕量。为800G生态系能够更具弹性的设计提供了至关重要的验证方案。
Figure 1： Multilane展出800G集成抖动和噪声的误码仪ML4079EN及测试套件SITOL
MultiLane 通过其新推出的800G Nexus Analyzer为业界提供了多种互连之间无缝主机/模块互操作性的保障。SerDes体系结构日益复杂，要求采用同样复杂的标准来确保链路可靠性。CMIS合规性提供了以800G提供固件互操作性的统一方式。行业采用者被迫投入大量工程资源，以实现与各种网络合作伙伴的完全CMIS合规。MultiLane Nexus Analyzer提供了一套功能强大的调试工具，能够简化CMIS互操作性测试。Nexus Analyzer功能采用CMIS/SFF验证中一些最耗时的部分，并将其显示在一个易于阅读的GUI中，包括：状态机和数据路径状态机测试、来自主机端的冲击电流测量、I2C R/W命令以及目标、启动器和旁路模式下的数据包分析，以及提供逐页寄存器验证的CMIS/SFF寄存器扫描。
MultiLane数据中心测试解决方案部门总经理Rachad Samaha表示：“MultiLane对不断增长的CMIS规范的积极贡献使我们能够提供一种解决方案，满足该领域工作的特定需求。”。“Nexus Analyzer的许多功能可以显著减少互操作性测试的典型工程时间。”
Figure 2 Multilane Nexus CMIS Analyzer
由于超大规模数据中心的带宽需求不断增加，业界已经在计划下一阶段的1.6T以太网。OSFP-XD设计运行在16通道，每通道112G PAM4信号，是推动1.6T互连发展的领先多源协议之一，MultiLane提供了一整套OSFP-XD测试夹具，包换MCB测试夹具，HCB测试夹具与 thermal load & control board。OFC2023 Multilane 与Amphenol 联合演示用于热设计验证的thermal load & control board 方案
Figure 3: Multilane OSFP-XD MCB and HCB
Figure 4 OFC2023 Multilane 与Amphenol 联合演示thermal load & control board, MCB
随着超大规模数据中心的加速增长，对以太网的性能要求越来越高，基础设施呈指数级增长，客户对高速数据吞吐量的期望达到创历史新高。任意波形发生器是高性能的理想通用开发工具，并且是相干模块开发和验证。ML4100L-AWG由4个差分传输通道组成，可用作任意波形发生器（AWG）或脉冲发生器模式（PPG）。适合用于High-Speed SerDes Testing of MIPI C/D-PHY, MIPI MPHY, PCIe5, USB4 and others，并且能够注入抖动进行压力情况下测试。
Figure 5: AWG ML4100L output signal eye
通过合作伙伴的持续反馈协作开发，Multilane全新的 ML4015E采样示波器，最新的GUI针对业界需求而设计改进，强调清晰、用户友好和灵活性。ML4015E增强的硬件功能提供非常低的固有噪声，固有抖动。ML4015E示波器搭配最新 CDR ML1061D可以实现53Gbd PAM4测试。 广泛的内置DSP滤波器库，快速有效地捕获53Gbd PAM4 信号，适合400G/800G光模块的研发和批量生产测试。
Figure 6: ML4015E示波器搭配ML1061D CDR的眼图测试
在当今竞争激烈、节奏快的行业中，时间是最昂贵的资源。用我们的高性能，自动化和吞吐量优化的解决方案，MultiLane完全重新定义了大规模生产测试的现状。我们提供的最先进的解决方案是完全自动化的，专门用于为我们的客户提供准确可靠的测量，同时为客户节省宝贵的时间。MultiLane的ML4035以TDR , BERT, DSO三合一的身份加入了我们众多成功产品的行列，能够进行400G BER测试、NRZ和PAM4眼图的测量以及特征阻抗表征和S参数评估。OFC2023 Multilane 同Yamaichi 联合展出ML4035用于验证 OSFP-XD Connector的测试方案
Figure 7: Multilane 同Yamaichi 联合展出ML4035用于验证 OSFP-XD Connector的测试方案
作为高速测试行业的领导者,MultiLane将其领先的误码仪和数字采样示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 测试机台，扩展了ATE机台数字和模拟验证，以及产线测试性能。高度集成的BERT和DSO提供32个通道的测试能力，最高可达112 Gbps PAM4和50 GHz输入带宽。利用这一独特的集成方案，MultiLane的设备可以进行数字和模拟FT以及CP 测试,包括serdes测试、发射机、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和无源高速设备。以太网、HDMI 2、USB 3/4、PCIe 5/6、光纤通道等测试都可以支持。BERT 和示波器还可用于 IC 验证、检定和生产测试。
Figure 8: Multilane 携手Advantest打造高速芯片自动化测试方案
关于MultiLane:
MultiLane是数据通信领域高速接口测试和数据中心测试方案的提供商。覆盖到早期的10 G到前沿的800 G以太网，主要产品包括误码仪、任意波形发生器(AWG)、光/电口采样示波器、时域反射计（TDR）、QSFP-DD, OSFP等其他各种封装形式的主机、模块一致性测试夹具、环回模块、适配器与分析仪等。产品广泛应用于半导体、DAC铜缆、AOC光缆、有源线缆、光模块、和交换机产品验证测试。我们的创新步伐紧跟行业快速变化的需求。
同时为帮助行业客户加速产品开发部署进程，Multilane也提供一致性测试服务，信号完整性设计服务等，另外Multilane的高速ATE 模组搭配ATE测试机台，已广泛应用于wafter级的全自动化测试，了解更多信息请访问Multilane官网 www.multilaneinc.com
或咨询中国区销售经理：林瑶, 13621907413
Multilane在OFC2023联合多家知名厂商共同展出800G互操作性验证及集成抖动和噪声的误码仪ML4079EN及测试套件SITOL，及诸多先进的测试测量方案。以下是Multilane最新的方案简介：
MultiLane推出业界革新的压力眼误码仪测试方案—ML4079EN。集成抖动和噪声测试解决方案ML4079EN误码仪与SITOL测试套件。SITOL集成了一种Interference Tolerance、Jitter Tolerance和Jitter Margin测试，确保您的设计能够满足单通道112G PAM4生态系统要求，ML4079EN抖动注入能力是IEEE设定的标准的三倍， MultiLane将IEEE标准要求提升到了另一个层次。通过自动化抖动和噪声解决方案，我们不仅能够准确地确定DUT是否具有足够的弹性，以便在实际应用中可靠地工作，而且也能够标定对抖动容忍的裕量。为800G生态系能够更具弹性的设计提供了至关重要的验证方案。
Figure 1： Multilane展出800G集成抖动和噪声的误码仪ML4079EN及测试套件SITOL
MultiLane 通过其新推出的800G Nexus Analyzer为业界提供了多种互连之间无缝主机/模块互操作性的保障。SerDes体系结构日益复杂，要求采用同样复杂的标准来确保链路可靠性。CMIS合规性提供了以800G提供固件互操作性的统一方式。行业采用者被迫投入大量工程资源，以实现与各种网络合作伙伴的完全CMIS合规。MultiLane Nexus Analyzer提供了一套功能强大的调试工具，能够简化CMIS互操作性测试。Nexus Analyzer功能采用CMIS/SFF验证中一些最耗时的部分，并将其显示在一个易于阅读的GUI中，包括：状态机和数据路径状态机测试、来自主机端的冲击电流测量、I2C R/W命令以及目标、启动器和旁路模式下的数据包分析，以及提供逐页寄存器验证的CMIS/SFF寄存器扫描。
MultiLane数据中心测试解决方案部门总经理Rachad Samaha表示：“MultiLane对不断增长的CMIS规范的积极贡献使我们能够提供一种解决方案，满足该领域工作的特定需求。”。“Nexus Analyzer的许多功能可以显著减少互操作性测试的典型工程时间。”
Figure 2 Multilane Nexus CMIS Analyzer
由于超大规模数据中心的带宽需求不断增加，业界已经在计划下一阶段的1.6T以太网。OSFP-XD设计运行在16通道，每通道112G PAM4信号，是推动1.6T互连发展的领先多源协议之一，MultiLane提供了一整套OSFP-XD测试夹具，包换MCB测试夹具，HCB测试夹具与 thermal load & control board。OFC2023 Multilane 与Amphenol 联合演示用于热设计验证的thermal load & control board 方案
Figure 3: Multilane OSFP-XD MCB and HCB
Figure 4 OFC2023 Multilane 与Amphenol 联合演示thermal load & control board, MCB
随着超大规模数据中心的加速增长，对以太网的性能要求越来越高，基础设施呈指数级增长，客户对高速数据吞吐量的期望达到创历史新高。任意波形发生器是高性能的理想通用开发工具，并且是相干模块开发和验证。ML4100L-AWG由4个差分传输通道组成，可用作任意波形发生器（AWG）或脉冲发生器模式（PPG）。适合用于High-Speed SerDes Testing of MIPI C/D-PHY, MIPI MPHY, PCIe5, USB4 and others，并且能够注入抖动进行压力情况下测试。
Figure 5: AWG ML4100L output signal eye
通过合作伙伴的持续反馈协作开发，Multilane全新的 ML4015E采样示波器，最新的GUI针对业界需求而设计改进，强调清晰、用户友好和灵活性。ML4015E增强的硬件功能提供非常低的固有噪声，固有抖动。ML4015E示波器搭配最新 CDR ML1061D可以实现53Gbd PAM4测试。 广泛的内置DSP滤波器库，快速有效地捕获53Gbd PAM4 信号，适合400G/800G光模块的研发和批量生产测试。
Figure 6: ML4015E示波器搭配ML1061D CDR的眼图测试
在当今竞争激烈、节奏快的行业中，时间是最昂贵的资源。用我们的高性能，自动化和吞吐量优化的解决方案，MultiLane完全重新定义了大规模生产测试的现状。我们提供的最先进的解决方案是完全自动化的，专门用于为我们的客户提供准确可靠的测量，同时为客户节省宝贵的时间。MultiLane的ML4035以TDR , BERT, DSO三合一的身份加入了我们众多成功产品的行列，能够进行400G BER测试、NRZ和PAM4眼图的测量以及特征阻抗表征和S参数评估。OFC2023 Multilane 同Yamaichi 联合展出ML4035用于验证 OSFP-XD Connector的测试方案
Figure 7: Multilane 同Yamaichi 联合展出ML4035用于验证 OSFP-XD Connector的测试方案
作为高速测试行业的领导者,MultiLane将其领先的误码仪和数字采样示波器集成到Advantest 的 V93000 ATE 测试机台，扩展了ATE机台数字和模拟验证，以及产线测试性能。高度集成的BERT和DSO提供32个通道的测试能力，最高可达112 Gbps PAM4和50 GHz输入带宽。利用这一独特的集成方案，MultiLane的设备可以进行数字和模拟FT以及CP 测试,包括serdes测试、发射机、放大器、具有高速 I/O 的 ASIC 以及其他有源和无源高速设备。以太网、HDMI 2、USB 3/4、PCIe 5/6、光纤通道等测试都可以支持。BERT 和示波器还可用于 IC 验证、检定和生产测试。
Figure 8: Multilane 携手Advantest打造高速芯片自动化测试方案
关于MultiLane:
MultiLane是数据通信领域高速接口测试和数据中心测试方案的提供商。覆盖到早期的10 G到前沿的800 G以太网，主要产品包括误码仪、任意波形发生器(AWG)、光/电口采样示波器、时域反射计（TDR）、QSFP-DD, OSFP等其他各种封装形式的主机、模块一致性测试夹具、环回模块、适配器与分析仪等。产品广泛应用于半导体、DAC铜缆、AOC光缆、有源线缆、光模块、和交换机产品验证测试。我们的创新步伐紧跟行业快速变化的需求。
同时为帮助行业客户加速产品开发部署进程，Multilane也提供一致性测试服务，信号完整性设计服务等，另外Multilane的高速ATE 模组搭配ATE测试机台，已广泛应用于wafter级的全自动化测试，了解更多信息请访问Multilane官网 www.multilaneinc.com
或咨询中国区销售经理：林瑶, 13621907413
