会员新品 | 联讯仪器全新推出200V PXIe 精密源表S2012C
发布时间：2022-11-08 10:33:03 热度：1396
11/08/2022，光纤在线讯，近期，光纤在线会员企业--联讯仪器宣布推出新品：全新 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C，该产品具有高精度、高速测量、并支持多通道并行测试等优势。
联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。其最小测量分辨率达10fA/100nV，输出电压高达±200V。进一步拓展了PXIe源表的应用场景，工程师可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 来测量低电流信号，同时PXIe SMU 的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性可实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等多种应用。
01高精度
S2012C 分辨率高达10fA/100nV，电压精度100μV，电流精度10pA ，可用于测量微小的泄漏电流等应用场合，泄漏电流通常在pA级别，S2012C搭配3同轴测量端子，用于nA级以下小电流测试。
02Adaptive PFC系统
用户可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系统，用户可根据负载特性，调整相关参数，获得更精确，快速的输出特性。
03高速测量
S2012C 最高可支持1M的采样率，NPLC和采样率可根据需要设定，以满足高速高精度的测量场景。
04构建多通道并行测试系统
基于PXIe的模块化架构便于构建紧凑的并行多通道测试系统，可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。
05直流I-V输出能力
06脉冲I-V输出能力
SMU产品系列
关于联讯
联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于高速通信测试，光芯片测试和半导体测试三大领域，可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE， 激光器芯片老化机，激光器芯片测试机，硅光晶圆测试机，功率芯片测试机，晶圆老化机，等高端测试设备。
更多产品详情，请访问 www.semight.com
联系联讯仪器
销售中心负责人：杨 建 186-6029-8596
光芯片老化测试：张 纪 189-7147-3511
光通讯测试仪表：邓 寒 186-2613-2729
高精度数字源表：张盼盼 185-2212-4627
半导体测试设备：张学增 185-2212-4627
联讯仪器全新推出 PXIe 精密电源/测量单元 S2012C。其最小测量分辨率达10fA/100nV，输出电压高达±200V。进一步拓展了PXIe源表的应用场景，工程师可以使用 S2012C SMU(Source Measure Unit) 来测量低电流信号，同时PXIe SMU 的高通道密度、高速的测试吞吐率和灵活性可实现晶圆级参数测试、材料研究以及分析低电流传感器和集成电路的特性等多种应用。
01高精度
S2012C 分辨率高达10fA/100nV，电压精度100μV，电流精度10pA ，可用于测量微小的泄漏电流等应用场合，泄漏电流通常在pA级别，S2012C搭配3同轴测量端子，用于nA级以下小电流测试。
02Adaptive PFC系统
用户可利用Adaptive PFC(Precise-Fast Control)系统，用户可根据负载特性，调整相关参数，获得更精确，快速的输出特性。
03高速测量
S2012C 最高可支持1M的采样率，NPLC和采样率可根据需要设定，以满足高速高精度的测量场景。
04构建多通道并行测试系统
基于PXIe的模块化架构便于构建紧凑的并行多通道测试系统，可扩展至数百个通道来满足晶圆级可靠性和并行测试需求。
05直流I-V输出能力
06脉冲I-V输出能力
SMU产品系列
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联讯仪器是国内高端测试仪器和设备提供商。主要专注于高速通信测试，光芯片测试和半导体测试三大领域，可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE， 激光器芯片老化机，激光器芯片测试机，硅光晶圆测试机，功率芯片测试机，晶圆老化机，等高端测试设备。
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高精度数字源表：张盼盼 185-2212-4627
半导体测试设备：张学增 185-2212-4627
