联讯仪器全新推出 25G/50G 突发误码仪
发布时间：2022-09-30 11:23:16 热度：2308
联讯rBT2250突发误码仪
9/30/2022，光纤在线讯，随着10G PON网络部署和实施，下一代50G PON网络的标准也已经完善：2018年，ITU/FSAN启动了基于单波长50G PON标准的制定工作，命名为G.HSP（G.Higher Speed PON）。2019年，50G PON的总体需求G.9804.1发布，明确了单波长TDM PON架构，以及上下行速率组合，此外，50G PON需要满足与10G PON以及存量ODN的共存平滑演进。2021年，ITU-T 50G PON系列标准正式发布，系列标准包括：总体需求标准修订G.9804.1 AMD1、通用协议层标准G.9804.2，以及物理层标G.9804.3。为了满足下一代50G PON测试需求，联讯仪器推出了rBT2250，专门针对下一代25G/50G PON光线路终端（OLT）测试的新型突发误码分析仪。
图1 联讯rBT2250 25G/50G 突发误码仪
50G PON 应用场景
50G PON是接入网能力的全面提升，实现了大带宽、低时延保障和通道化能力的全面提升，面向多应用场景。
图2 50G PON 全场景
50G PON采用单纤双向传输，下行TDM时分复用，上行TDMA时分多址接入，实现OLT和ONU之间的点到多点通信，在PON系统中，光网络单元ONU通过光纤和耦合器共享一个光线路终端OLT，上行数据的传输采用时分复用的方式共享上行信道，对于发射上行数据的光发射机来说，它发射的是突发包信号。目前因为受到核心芯片及器件的限制，50G PON目前阶段还是以非对称：下行50G连续/上行25G突发为主。
图3 50G PON 架构
50G PON 测试挑战
因传输路径不同，各数据包有不同衰减，数据包中存在长连“1”、“0”，这些因素的影响使得OLT突发接收模块接收的信号是特殊的突发光信号。
图4 不同幅度ONU信号
ONU 上行突发信号：
需要有和数据同步的使能控制信号；
需要能发送前导码+PRBS数据的具有时序的数据包（帧结构）
—> 需要具有突发数据和同步使能控制信号的误码仪
图5 突发误码仪双突发测试
对于上行的突发信号，OLT接收模块不仅要从不同功率衰减ONU1和ONU2突发信号中，迅速恢复出幅值相等的信号，而且要消除不同ONU的相位突变，即完成时钟和相位的对齐，因此OLT输出的信号应该为幅值相等且时钟和相位对齐的电信号，双突发测试可以模拟两路不同衰减的ONU传输测试。
—> 需要突发误码仪在突发模式才能验证OLT接收机的性能，连续模式误码分析仪诊断不出来有问题的OLT
rBT2250 突发误码仪
针对上述测试需求，联讯仪器rBT2250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道，支持连续模式或突发模式误码分析，具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力。码型时序灵活可调，并针对器件测试需求，给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。而且rBT2250内置时钟恢复，可以自动测距，对长纤测试毫无问题。从而大大简化测试设置、连接、占地空间以及测试成本。
图6 rBT2250 软件主测试界面
产品特点：
1、支持突发或连续模式信号输出及误码测试；
突发模式支持速率：9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps；
2、多通道配置：
集成2个独立的高速突发数据通道，
支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和1路突发误码测试通道；
3、支持2路同步的ONU激光器使能控制通道，控制电平需要LVTTL 3.3V，不需外接电平转换；
4、支持1路双复位控制通道：复位位置可调，复位宽度可调；
5、支持1路RSSI Trigger：且 RSSI Trigger 位置及脉冲宽度可调；
6、可增加额外连续码型发生器通道：可以选择双25G NRZ通道、50G PAM4通道或者50G NRZ通道；
7、支持LOS测量：每个测试通道单独具备LOS监测通道，可以监测SD（Signal Detect）信号，判断LOS；
8、支持CDR（时钟恢复）：同OLT设备类似，每次接收都会进行时钟恢复；内置时钟恢复使得rBT2250可以工作在真实的长纤工作环境中，这在业内普遍使用的其他方案中基本无法实现，因为那些系统不支持时钟恢复，长纤对时延的及抖动的影响使其不能工作。
图7 联讯25G OLT整体测试方案
OLT 整体测试方案中，rBT2250突发误码仪同时支持2路突发信号，模拟2个ONU的双包突发测试，50G 光采样示波器支持OLT TX端连续模式光眼图测试。
关于联讯
联讯仪器位于苏州高新区湘江路1508号，是国内高端测试仪器和设备提供商。联讯仪器主要专注于高速通信测试，光芯片测试和半导体测试三大领域，可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE， 激光器芯片老化机，激光器芯片测试机，硅光晶圆测试机，功率芯片测试机，晶圆老化机，半导体参数测试机等高端测试设备。
联讯仪器坚持以客户为中心，以员工为根本，以创新为驱动，尽精微致广大的企业文化，心怀不断填补国内高端测试仪器设备空白的使命，为达成国内领先、国际知名的高端测试仪器设备提供商的愿景而不懈奋斗。
更多信息请访问 www.semight.com
>>> 欲了解更多产品详情，请联系我们：
销售中心负责人：杨 建 186-6029-8596
光通讯测试仪表：邓 寒 186-2613-2729
光芯片老化测试：张 纪 189-7147-3511
高精度数字源表：张盼盼 185-2212-4627
半导体测试设备：张学增 139-1404-6017
E-mail：sales@semight.com
地 址：苏州市虎丘区湘江路1508号
9/30/2022，光纤在线讯，随着10G PON网络部署和实施，下一代50G PON网络的标准也已经完善：2018年，ITU/FSAN启动了基于单波长50G PON标准的制定工作，命名为G.HSP（G.Higher Speed PON）。2019年，50G PON的总体需求G.9804.1发布，明确了单波长TDM PON架构，以及上下行速率组合，此外，50G PON需要满足与10G PON以及存量ODN的共存平滑演进。2021年，ITU-T 50G PON系列标准正式发布，系列标准包括：总体需求标准修订G.9804.1 AMD1、通用协议层标准G.9804.2，以及物理层标G.9804.3。为了满足下一代50G PON测试需求，联讯仪器推出了rBT2250，专门针对下一代25G/50G PON光线路终端（OLT）测试的新型突发误码分析仪。
图1 联讯rBT2250 25G/50G 突发误码仪
50G PON 应用场景
50G PON是接入网能力的全面提升，实现了大带宽、低时延保障和通道化能力的全面提升，面向多应用场景。
图2 50G PON 全场景
50G PON采用单纤双向传输，下行TDM时分复用，上行TDMA时分多址接入，实现OLT和ONU之间的点到多点通信，在PON系统中，光网络单元ONU通过光纤和耦合器共享一个光线路终端OLT，上行数据的传输采用时分复用的方式共享上行信道，对于发射上行数据的光发射机来说，它发射的是突发包信号。目前因为受到核心芯片及器件的限制，50G PON目前阶段还是以非对称：下行50G连续/上行25G突发为主。
图3 50G PON 架构
50G PON 测试挑战
因传输路径不同，各数据包有不同衰减，数据包中存在长连“1”、“0”，这些因素的影响使得OLT突发接收模块接收的信号是特殊的突发光信号。
图4 不同幅度ONU信号
ONU 上行突发信号：
需要有和数据同步的使能控制信号；
需要能发送前导码+PRBS数据的具有时序的数据包（帧结构）
—> 需要具有突发数据和同步使能控制信号的误码仪
图5 突发误码仪双突发测试
对于上行的突发信号，OLT接收模块不仅要从不同功率衰减ONU1和ONU2突发信号中，迅速恢复出幅值相等的信号，而且要消除不同ONU的相位突变，即完成时钟和相位的对齐，因此OLT输出的信号应该为幅值相等且时钟和相位对齐的电信号，双突发测试可以模拟两路不同衰减的ONU传输测试。
—> 需要突发误码仪在突发模式才能验证OLT接收机的性能，连续模式误码分析仪诊断不出来有问题的OLT
rBT2250 突发误码仪
针对上述测试需求，联讯仪器rBT2250提供2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道，支持连续模式或突发模式误码分析，具有两路突发时分码型序列产生和误码分析能力。码型时序灵活可调，并针对器件测试需求，给相应测试通道提供同步的激光器使能、复位信号等低速控制通道。而且rBT2250内置时钟恢复，可以自动测距，对长纤测试毫无问题。从而大大简化测试设置、连接、占地空间以及测试成本。
图6 rBT2250 软件主测试界面
产品特点：
1、支持突发或连续模式信号输出及误码测试；
突发模式支持速率：9.953Gbps/10.3125Gbps/12.4416Gbps/24.8832Gbps；
2、多通道配置：
集成2个独立的高速突发数据通道，
支持2路突发时序可配置的码型发生器通道和1路突发误码测试通道；
3、支持2路同步的ONU激光器使能控制通道，控制电平需要LVTTL 3.3V，不需外接电平转换；
4、支持1路双复位控制通道：复位位置可调，复位宽度可调；
5、支持1路RSSI Trigger：且 RSSI Trigger 位置及脉冲宽度可调；
6、可增加额外连续码型发生器通道：可以选择双25G NRZ通道、50G PAM4通道或者50G NRZ通道；
7、支持LOS测量：每个测试通道单独具备LOS监测通道，可以监测SD（Signal Detect）信号，判断LOS；
8、支持CDR（时钟恢复）：同OLT设备类似，每次接收都会进行时钟恢复；内置时钟恢复使得rBT2250可以工作在真实的长纤工作环境中，这在业内普遍使用的其他方案中基本无法实现，因为那些系统不支持时钟恢复，长纤对时延的及抖动的影响使其不能工作。
图7 联讯25G OLT整体测试方案
OLT 整体测试方案中，rBT2250突发误码仪同时支持2路突发信号，模拟2个ONU的双包突发测试，50G 光采样示波器支持OLT TX端连续模式光眼图测试。
关于联讯
联讯仪器位于苏州高新区湘江路1508号，是国内高端测试仪器和设备提供商。联讯仪器主要专注于高速通信测试，光芯片测试和半导体测试三大领域，可以提供包括高速误码仪、网络测试仪、宽带采样示波器、高精度波长计、光谱仪，通用数字源表等高端测试仪器，以及高速光电混合ATE， 激光器芯片老化机，激光器芯片测试机，硅光晶圆测试机，功率芯片测试机，晶圆老化机，半导体参数测试机等高端测试设备。
联讯仪器坚持以客户为中心，以员工为根本，以创新为驱动，尽精微致广大的企业文化，心怀不断填补国内高端测试仪器设备空白的使命，为达成国内领先、国际知名的高端测试仪器设备提供商的愿景而不懈奋斗。
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光通讯测试仪表：邓 寒 186-2613-2729
光芯片老化测试：张 纪 189-7147-3511
高精度数字源表：张盼盼 185-2212-4627
半导体测试设备：张学增 139-1404-6017
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