昊衡科技打破国外技术垄断，实现OFDR技术国产商用化

8/20/2021，以往光频域反射仪（OFDR）只有国外少数几家公司拥有高端仪器，细分市场也被垄断，国内需求只能依靠国外进口。近日，昊衡科技自主研发了系列产品，其核心技术具有原创性和自主知识产权，实现OFDR技术国产商用化，解决了这一新技术的痛点问题。

   在通信测量领域，昊衡科技推出了OFDR商用产品OCI系列，该系列产品可用于实验室以及室外工程。系统自校准无需人为干预，稳定性非常好，主要技术参数已经处于国际领先水平，测量精度可达μm级别。



OCI系列产品：
1、全功能的OCI能测量回损、插损、光纤长度、光谱、群延时等；
2、简化版的OCI-T主要针对硅光芯片器件、光纤微结构定量分析，品质监测及故障诊断；
3、OCI-L专用于光纤或光学链路长度测量。

测试案例：
插入损耗测试
光纤链路通常包含多连接点、弯曲和多器件， OCI特有的分布式高精度插损测量能力，可以快速准确地测量并定位链路各事件点的插损。
案例中用可调衰减器在衰减2dB、3dB、5dB时重复测量10次，插损测量重复性误差小于0.1dB。


回波损耗测试
硅光链路具有高度集成性，传统回损测试方案无法精确定位、测量硅光链路某一位置或器件回损特性。OCI具有较高空间分辨与回损测量精度，可以快速并准确地获取全链路任意位置的回损特性。

如图所示为平面波导延迟线。选取芯片中心0.2m长度区域计算回损，其值为-57.95dB。同样，研究人员也可通过OCI测量光纤与硅光芯片耦合点回波损耗来评估耦合效率。


光纤长度测量
OCI在50m测量范围内空间分辨率为10μm，非常适用于高精度光学延时测量领域，如光纤延时、硅光延时、空间光路延时以及迈克尔逊干涉仪的精准测量。


啁啾光栅光谱及延时测量
OCI采用扫频光源，覆盖C+L波段，根据气体吸收线定位波长，可以实现1pm光谱测量精度和1ps群延时测量精度。


昊衡科技始终秉持着“技术感知世界”的使命，将不余遗力的坚持创新创造，励志打破国外技术垄断，将国产OFDR技术推向世界。

关于昊衡科技
一家集研发、生产、销售于一体的高科技公司，专业从事工业级自校准光学测量与传感技术开发，也是国内唯一一家实现OFDR技术商用化的公司。目前，昊衡科技已推出多款高精度高分辨率产品，主要应用于光学链路诊断、光学多参数测量、高精度分布式光纤温度和应变传感测试。已与全球多个国家和地区企业建立良好的合作关系，并取得诸多成果。