MultiLane TIA及RF driver芯片测试方案

10/27/2020，光纤在线讯      跨阻放大器（TIA）及RF driver芯片不论今天还是未来都是光模块输出信号质量好坏的重要器件。对于TIA、RF driver的特性的测量包括频域和时域，传统的测试方法会使用矢量网络分析仪或采样示波器等方式来进行3dB带宽、线性度和设备噪音等的测量，这些测试方法通道数量有限对于多通道TIA测量不得不多次切换通道影响测试效率，同时这种配合也价格不菲。

MultiLane根据客户的需求开发了TIA芯片测试套件即减少了测试时间也提高了测试效率，并能保证测试的准确性。在实验室的应用当中，ML4035集误码仪、采样示波器及网分功能三为一体的4通道多用途高速测试设备，可称之为高速信号测量的万用表。



当测量TIA或RF Driver时，可通过S参数测量功能测试信号链路的损耗，如射频线缆、PCB trace、连接器等。同时将S参数代入后进行实际的S参数测量，得到正确的Sdd21 vs Gain/3dB Bandwidth。在给定的范围内，可变增益放大器和TIA的输出随着输入线性变化，一些RF放大器和TIA具有带宽控制输入，必须对其影响进行分析。
 

TIA S parameter vs Gain


TIA S parameters VS Bandwidth

ML4035还可以根据客户的不同需求分析，阻抗、回损等相关的频域特性参数。

THD作为TIA的重要指标，可以通过ML4035的PPG产生正弦波，经过TIA后通过采样示波器的频域转化测量功能测量THD的数值。




      
线性度RLM及Noise的测量同样可以通过BERT及采样示波器的功能，进行基于IEEE802.3的RLM进行测量，没有任何输入的TIA真实noise测量。作为一个多功能的解决方案除了能满足各类TIA、RF Driver的实验室参数测量，产线测试速度也是ML4035的一大特点，通过API编程只要4、5秒的时间就能完成带宽、THD和noise的测量。

同时，MultiLane还提供ATE测试方案，可对TIA、RF driver、SerDes及计算机相关高速接口进行晶圆等级的测试，可以同时进行32个通道的测量，大大的增加了测试的吞吐量。



在TIA及RF Driver芯片上，MultiLane不论在实验室还是芯片产测都为用户提供了不同方案的可能，迅速提高客户的研发及生产速度。

如需了解更多关于TIA、RF Driver或高速I/O的实验室及芯片产测方案可以联系深圳市唐领科技有限公司，0755-23917251，sales@te-lead.com。