专访上海江木智能科技：专注国产化的测试解决方案

9/17/2020，随着5G时代的来临，国内光器件和光模块供应商迎来难得的网络大规模更新升级的机遇。但同时建设5G的成本也大幅高于4G时代，而光器件、光模块是5G网络成本的重要组成部分，如何降低光器件和光模块的成本，是我们整个行业亟需解决的问题。 作为光通信测试仪器解决方案供应商，上海江木智能科技（Join-MU）将立足于从国产化、定制化、差异化的角度，为客户降低测试成本，提高测试效率，这是我们测试仪器供应商义不容辞的使命。 我们将聚焦于光通信行业检测领域的细分市场，通过平台化、模块化设计、助力光通信行业和中国制造2025。上海江木智能科技总经理陈新华在CIOE 2020期间接受光纤在线采访时说道。

       右为江木智能科技总经理陈新华先生

   问及Join-MU现有的产品时，陈总介绍， 目前Join-MU主打产品为多通道免缠绕插回损测试仪，光背板测试系统，BOB测试，光模块测试，HDMI-AOC测试，LD-集成老化系统， MPO，光缆，波分器件，环境监测等等。
   在免缠绕插回损测试方面，Join-MU技术团队于2012年最早研发出免缠绕插回损测试仪，并填补了国内插回损测试仪在“免缠绕”测试领域的空白。Join-MU全系列产品通过平台化、模块化设计，实现了类似于搭积木的方式，为客户高效迭代，推陈出新，提供量身定制的测试解决方案。
   MPO测试仪系统也是Join-MU自主研发的一款针对多芯器件的测试设备。自动完成24通道双波长，插回损测试仅20S，极大的提高了多芯器件的插回损测试精度及测试效率，此产品相比业内同类产品效率至少提高3倍以上，可大大的为企业节约人工成本以及设备投入。

               MPO测试系统

   光模块测试方面，Join-MU也推出了一款自主研发的光模块并行测试系统，此产品不仅能实现多个待测光模块在同一温度环境和待测光模块评估板上进行测试、且测试结果不仅一致性好、还极大减少开关温循箱的次数、加快了待测光模块温度测试速度、并且一次性完成多个待测光模块的发射和接收测试工作、中途不需要换纤动作，大大提高了测试效率。还具备4路25G光模块并行测试、可集成光功率计，光衰减器，光开关，误码仪等功能，集成度也非常高、便于二次开发、还可定制完整产线测试系统。同时，Join-MU也开发出带有千路光背板高效率测试、自动路由识别、免插损清零操作的光背板测试系统等等。

            光模块并行测试系统

   作为光通信测试仪器解决方案供应商， Join-MU将始终与客户保持密切沟通和配合，始终聆听客户的建议和意见，始终聚焦用户需求，用工匠的精神持之以恒的为客户提供最优质的产品和最贴心的服务。
   下一步，Join-MU将立足于高端光通信，传感，微波光波领域检测仪器，设备的国产化，自主研发并专注于为光芯片、TO、光模块等垂直产线链提供国产化的测试解决方案。


                  CIOE展会现场

                  CIOE展会现场

                  CIOE展会现场