安立首推用于LTE-A的集成信道衰落模拟器

 8/19/2015,安立公司将信道衰落模拟功能集成到业界领先的4GLTE-Advanced信令测试仪MD8430A中。新的数字基带衰落选件，将MD8430A信令测试仪变成支持行业标准3GPP定义的衰落曲线的全功能信道衰落模拟器。

　　MD8430A信道衰落选件可与MD8430A相结合，减少投资额外硬件来实现真实射频（RF）条件下执行信号测试的需求。这是第一个LTE-Advanced使用内置衰落模拟器支持4×4MIMO下行链路配置的信令解决方案。

　　MD8430A为LTE和LTE-Advanced的开发工程师们所信赖，被认为是用于模拟实验室LTE网络的领先的信令测试仪。随着这次发布，多功能的MD8430A硬件平台不断发展，为安立公司的客户提供更好的投资回报。

　　通过建筑物和树木一样的高大的结构，反射和散射无线电波传送，这意味着接收器实际接收到来自"多路径"具备不同强度、时间和方向到达的多个原始信号。LTE-Advanced的一个主要特点是多输入多输出（MIMO）天线系统，该系统通过运用多路径传输提高设备性能。为了更加仔细有效地测试此类MIMO设备，多路径衰落效应必须以可重复的方式准确地施加到每一个天线。
　　采用内部数字基带处理，MD8430A在测试执行过程中应用多路径效应，快速测试设计（RTD）软件为测试人员提供用于创建和运行衰落模拟测试的集成环境。支持LTE-Advanced功能，如载波聚合和MIMO，使MD8430A成为帮助领先的芯片设计人员构建下一代高性能移动设备的理想解决方案。除了通过RF连接测试设备，带衰减选件的MD8430A也支持慢时钟数字接口，在昂贵的ASIC生产之前，先在仿真环境中验证设计。