WaveFront 推出MEMS测试仪

不支持该视频1/14/2004， WaveFront仪器公司今天推出M510 超高速精密光学MEMS测试系统和OmniVue XP分析和控制软件。M510配合OmniVue软件将成为光MEMS器件特性的理想分析工具。该产品的主要特点包括超精密的镜面倾角测量能力，超高速的镜面响应测量能力，2个独立的用户订制波形发生装置，4个独立的用户电压通道，完全的X-Y自动调整装置。