安捷伦推出增强型的光子全参数分析仪

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     安捷伦(Agilent)推出一款重新经过设计且彻底增强的光子全参数分析仪，这个全功能的解决方案主要用来测试及验证如10Gb/s和40Gb/s DWDM等重要的光学组件。该公司表示，这个新的解决方案提供测试结果的速度是以往的10倍，它能协助光纤网络组件工程师与制造商大幅降低开发与生产的成本。 增强型的Agilent 81910A光子全参数分析仪，色散量测轨迹可以实时地更新，以利于线上的制程控制与调整。此外，为了能够在1472 nm到1620 nm的超大范围内进行全参数量测，因此搭配了Agilent 81600B全频带雷射模块，据称其所提供的调谐范围是目前任何一款可调式雷射模块所不能及的。 81910A还有助于促进下一代光子组件的设计，因为可以直接取得Jones矩阵资料。而新的软件能配合不断改变的需求，让您无限制地进行埠的测试以提高测试仪器的投资报酬率，其涵盖耦合器、光纤光栅、薄膜滤波器及数组波导光栅等更广泛组件所需。 Agilent 81910A能测试所有的光学组件参数，例如频谱和极化相依损耗、波群延迟、以及差动波群延迟等。这些效能参数是优化高速、窄距的DWDM传输系统的过程中不得不重视的因素。有别于传统使用电子调变讯号的方法，Agilent 81910A采用了一种全光学的方法，来同时提供传输与反射的全参数量测。 而相较于利用个别的单一参数测试组件所执行的量测，此种技术只需要连接到待测组件一次，因此可将测试的不确定性与组件的处理时间减到最低。新的软件加入了一系列的分析算法，包括将波群延迟转换成色散，以及将差动波群延迟转换成极化模式色散。新的应用程序接口(API)则是提供了从远程控制仪器的能力，除了有助于顺利整合到制造环境外，还能支持先进的量测解决方案的简易实作。