威谊光通推出偏振测试系统

8/27/2009,杰普特电子携手威谊光通联合推出的光纤型偏振测试系统主要应用于光通信器件和仪器偏振相关参数的测量，速度快、精度高，同时可用于光纤偏振现象的研究等领域。系统的软件部分由两公司自主研发，拥有多项自主知识产权，即将在下周开幕的第十一届中国国际光电博览会展出。

产品主要功能及算法：

系统传输矩阵(特定或多波长下)。
米勒矩阵测量(4输入)。
琼斯矩阵测量。
PDL/G测量(特定或多波长下)。
两状态法。
琼斯矩阵法。
米勒矩阵法(4状态法)。
PMD测量。
自动选择(虚拟米勒矩阵法或扩展虚拟米勒矩阵法)。
虚拟米勒矩阵法。
扩展虚拟米勒矩阵法。
广义邦加球法。
琼斯矩阵本征值分析法。
米勒矩阵法。

主要技术参数：

工作波长波长1：1510-1640nm 。
输入光功率功率：-20~10 dBm。
偏振分析仪类型：旋转波片型。
测量速率（最大）2：基于可调激光器。
测量类型：琼斯、米勒矩阵，PDL，PDG，DGD，DAS，一阶及二阶PMD矢量。
PDL/G测量范围：0~50dB。
PDL/G测量可重复性：＜0.02 dB。
DGD测量范围：0.02~400ps。
DGD测量重复性：0.01 ps。
工作温度：5~40℃。
储存温度：-40~70℃。
电源：240V ±10%，50Hz/60Hz ±5%。
计算机接口：USB。