MultiLane下一代数据中心互联测试解决方案亮相CIOE

光纤在线编辑部  2020-09-08 07:29:30  文章来源:本站消息  版权所有,未经许可严禁转载.

导读:MultiLane全系列高速互联测试方案将在4号馆4A305、306深圳市唐领科技展台亮相,MultiLane覆盖了高速测试仪器、互联测试夹具模块及工具、ATE测试系统等实用性研发、生产及现场测试产品。

9/08/2020,光纤在线讯,2020年9月9-11日,MultiLane全系列高速互联测试方案将在4号馆4A305、306深圳市唐领科技展台亮相,MultiLane覆盖了高速测试仪器、互联测试夹具模块及工具、ATE测试系统等实用性研发、生产及现场测试产品。

     此次展会重点推出800G、400G革命性误码仪,除了传统误码仪单通道53GBd的测量速率,还真正使用硬件方式进行FEC的测量而非过去的FEC的仿真功能。独特的通道仿真功能,让客户可以模拟在不同损耗下的信号状况。同时,串扰噪音作为一个特有的选项可集成在机器内部,需要做电压力及容限测试的客户有了更多的选择。配搭误码仪测试的光电采样示波器也一并展出,丰富的数字滤波器、数字信号处理能力是测量53GBd及26GBd PAM4光电信号的一大亮点。


            
高速测试的相关夹具、模块及分析工具也是此次展出的重点,CMIS分析工具是400G主机与模块交互的非常有用的分析工具,智能Loopback模块模拟功耗、发热分布及损耗,大大提高主机厂商的研发和测试效率。
  


在国家大力发展半导体产业的同时,MultiLane也拥有ATE测试系统,适用于高速I/O、RF driver及TIA等高速芯片的在线测试,此次将由上海巍测在展台展出相应的测试方案。
 


欢迎阁下到展位4A305、306参观及沟通。更多详细信息可联系sales@te-lead.com
关键字: MultiLane 唐领科技 800G
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