VI 系统推出晶元级测试平台

 12/8/2015, 德国高性能半导体光芯片开发商VI系统公司今天宣布推出针对6寸晶元产品的测试服务。新的半自动的晶元探测仪可以在制造早期就进行电和光性能的测试。测试的参数包括了光输出功率，光谱，工作电压，偏压，驱动电流和暗电流等。此外，38GHz模拟工作频率测试和最高64Gbps的数字传输测试也包括在内。再有就是具有支持近场和远场分析工具，支持显微镜检查。

VI系统表示这一测试平台可以在晶元切割前就进行性能测试，从而不会影响产出效率，降低了生产成本。VI将在明年2月16日到18日在旧金山举办的SPIE光子西部大会上展出这一产品。 展位号4147。