VI系统完成25Gbps VCSEL可靠性测试
发布时间：2014-05-28 10:03:59 热度：1828
5/27/2014, 德国高速光器件提供商VI系统公司今天宣布完成对V25-850Cxx系列的28Gbps每通道VCSEL器件的可靠性测试。该系列芯片可以用于4X25Gbps以及下一代的12X25.78Gbps Infiniband EDR互联，16X25Gbps 400Gbps等应用中。
这次可靠性测试为加速测试，测试的产品包括500片芯片，工作温度最高150摄氏度，采用3种不同的电流密度。
实验表明，在45摄氏度工作温度和18kA/平方厘米电流密度下，器件寿命几乎是无限的。在高热沉温度（30%湿度，密封环境）下，MTF有效寿命超过35年，最高工作温度可以达到90摄氏度。
EZconn Czech为实验提供了测试设备。
实验报告可以参考
http://www.v-i-systems.com/_data/Reliability_Report_V25-850_VCSEL_short_version.pdf
这次可靠性测试为加速测试，测试的产品包括500片芯片，工作温度最高150摄氏度，采用3种不同的电流密度。
实验表明，在45摄氏度工作温度和18kA/平方厘米电流密度下，器件寿命几乎是无限的。在高热沉温度（30%湿度，密封环境）下，MTF有效寿命超过35年，最高工作温度可以达到90摄氏度。
EZconn Czech为实验提供了测试设备。
实验报告可以参考
http://www.v-i-systems.com/_data/Reliability_Report_V25-850_VCSEL_short_version.pdf
