宜捷威测试Laser Diode 高温测试系统

 7/26/2005,FLT-704 Laser Diode Burn In System是宜捷威Faztec  Optronics和工业技术研究院ITRI合作之Laser Diode高温测试系统，此系统采用IC BUTN-IN作法，烤箱内完全采用PCB和插座做为电流导通之介质，不采用易劣化之电线，且把高温炉和控制室整合在一个机箱内，所以外部除了电源线外，看不到多余之电线，整个系统在外观上非常简洁，并采用触控屏幕做为人机界面，操作简单易懂。 

   FLT-704为LD驱动电流0~200mA与PIN-TIA驱动电压0~10V，可由人机界面设定，每个Channel最高驱动电流为200mA。而此系统最大的特色是LD系统共有24个测试盘，并分成四组，即每盘64颗LD，每组6盘，PIN-TIA系统也有24个测试盘，分成二组，即每盘64颗PIN-TIA，每组12盘，两者皆可独立由触控屏幕上设定烧测电流值与电压值。LD在烧测时，TO-Can内的PD可同以5~25V的电压，提供逆偏BURN-IN与 PD之逆偏电压，二个OVEN也可独立设定测温度，温度范围R.T.~150℃，烧测时间为0~9999.9小时，同时实际烧测时间也会示在触控屏幕上，当烧测时间结束时，系统会自动OFF电流、电压、温度，即本系统具有定时功能。且LD的脚位由驱动电路板上的跳接线选择。 

  目前使用者包含多家光通讯大厂如武汉电信器件WTD，武汉华工正源光子HG Genuine，与SAE。宜捷威科技Ｆaztec Optronics为国内少数专注于光通讯量测的仪器供货商，由量测光模块Transceiver起家的宜捷威，从上游组件ＬD测试，PD测试，TO-CAC测试，TOSA测试，到完成品光模块Transceiver测试均可。配合光通讯设备组件代理与自行开发产品双主轴策略来服务客户，宜捷威系技术、行销并重，且于武汉光谷为中心启开华人光通讯测试品牌先机。